VCC为直流，Vi为小信号输入，R1、R2为电压偏置，设置静态工作点，R3为Ic转换成电压，使Vout输出，C1和C3为隔直输入，R4为负反馈电阻，C2为允许负反馈存在而不影响放大倍率，即允许小信号交流通过而不通过电阻。同时Ube电压基本为0、7V（大部分三极管的压降值）。在仿真中，使用那个三极管问题不大，只是一些极限参数和放大倍数不同。

当交流信号输入到底座时，它会根据底座的直流电压增加或减少一个电压值△V。这个△V会改变Vbe并最终导致Ib电流增加或减少。

Ib变化，所以Ic也随之变化，因为Ic=βIb，电流总是从上到下。

输入到基极的交流信号是电压信号，所以你看到的结果当然也是电压信号（集电极输出），R3把电流Ic转换成电压。请注意，您正在放大电流和电压，但在集电极上，您看到的是电压而不是电流。

共发射：分析三极管的小信号模型时，当输入信号增大时，Ube的电压增大（DC+信号），Ic增大，发射极接Rc，所以Rc的电压上升，Uout=VCC-Vr3、VCC不变，Vr3上升，Vout自然下降，Vr3下降，Vout自然上升，这就是共源共栅反相的原因。

2、半导体VI设计：桂林电子科技大学北海学院的专业和收费标准是什么

3、半导体VI设计：Verigy的硬件系统介绍

半导体测试公司Verigy宣布其测试系统推出了针对消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可以对各种高度的晶圆进行晶圆测试（WaferSort）和最终测试。集成消费电子产品组件。 （最后一个考试）。半导体设计公司和大批量制造商通常难以平衡性能要求的广度与高效和经济测试的需求，特别是当设计和生产对价格敏感时，常见于光驱 (ODD)、DVD、数字混合信号组件在电视 (DTV) 和机顶盒 (STB) 等应用中的消费电子产品中。这些组件的集成度越来越高，甚至内置了ePMIC（嵌入式电源管理IC）和嵌入式闪存组件。 Verigen 的消费电子混合信号测试解决方案可通过先进的测试方法确保高精度和测试质量，并可提供高速的单组件（Single-site）和多组件（Multi-site）测试能力。测试系统需要具有更高的精度和直流测量能力，以满足数字信号的测试要求，同时测试高性能模拟和电源管理 IP 核。新的系统级封装 (SiP) 和多芯片封装 (MCP) 技术需要使用 KnownGoodDie，因此在晶圆筛选测试期间必须执行高性能测试。此外，纳米加工创造了新型失效模式（失效机制），必须消除这些失效模式才能提高良率，这对于收回数十亿美元的晶圆厂投资极为重要。具有成本效益的晶圆级测试对于在生产阶段早期识别故障模式从而提高良率变得越来越重要。可插入 Verigy 测试头的单槽模块卡包含业界最高的每平方厘米功能，有助于降低测试系统的尺寸和成本。消费类电子产品混合信号测试解决方案包括以下模块卡： MBAV8（Multi-BandAudio-Video，新一代模拟多频段音视频标准）模块卡——无论内核数量或数量均可扩展性能水平，非常经济，灵活性，在包括专业音频在内的各种应用中具有很高的适用性；基带智商；宽带通信；高质量和标准质量的电视、机顶盒、数字电视和 DVD（BluRay 和 HD-DVD）等。此外：PinScale - 测试引脚可以扩展以满足大多数消费类 IC 和晶圆测试的需求，并为更广泛的消费类 IC 提供接口。入门版速度1000、可升级为+Mbps per pin和M vector per pin； DCScale——单模块卡，可灵活应对各种应用（嵌入式闪存组件、嵌入式电源管理IC，提供准确的参考电压）。测量通道数可从16个扩展到32个，每个通道具有码型（Pattern）触发能力，可提供最快的测试速度。此外，DCScale的每块模块卡内置32个测量通道，具备更多元器件的测试能力，覆盖更多的功率域（PowerDomains），可进行快速同步触发，提高稳定性和一致性，提供最快的测量速度.